RQ88102铁基Fe/非铁基NFe镀层测厚仪 膜厚仪
RQ88102铁基Fe/非铁基NFe镀层测厚仪采用高新晶片微电脑技术，测试快速稳定的膜厚仪，自动识别磁性或非磁性基材，却换相应的测试方法，适用于测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层厚度。
优点：
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；
操作过程有蜂鸣声提示；
电池电压指示：低电压提示
自动关机
测量方法：Fe磁感应 、 NFe 涡流
技术参数：
测量范围：0~1250um (特殊量程可以定制)
分辨率：0.1/1
最小曲率半径: 凸 5mm/ 凹 5mm
最小测量面积：10X10mm
最薄基底：0.4mm
使用环境：温度：0-45℃ 湿度：5-85%RH
准确度：±(1.5~3%h)或±2um
公制/英制：um/min可转换
机身尺寸：102mmx66mmx24mm
电源：2节5号1.5v电池
重量：100g（含电池
配置：
标准片4片： 50um 、100um、 250um 、500um（选购：12um、25um）
校准基体：2块（Fe铁基体*1、NFe铝基体*1）
电池2块（航空运输一般不配电池）
说明书1份
保修卡1张
